Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos de la muestra tanto morfológicos como elementales, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad y análisis de fallas en laboratorios de investigación.
Está indicado para la caracterización de rutinas de materiales, investigación y aplicaciones de control de calidad a escala de micras.
Características del microscopio Electrónico de Barrido SEM
- Imágenes óptimas y condiciones analíticas disponibles de inmediato gracias al exclusivo diseño óptico sin apertura de TESCAN con tecnología In-flight Beam Tracing™.
- Navegación SEM en la muestra precisa y sin esfuerzo con aumentos de hasta 2× sin necesidad de cámara de navegación óptica adicional debido al exclusivo diseño Wide Field Optics™.
- Modo SingleVac™ como característica estándar para la observación de carga en muestras sensibles al haz.
- Software Essence™ intuitivo y modular diseñado para una operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de experiencia del usuario.
- Máxima seguridad de los detectores montados en cámara cuando platina y muestra están en movimiento garantizadas con el modelo Essence™ 3D Colisión.
- Disponibilidad de detectores opcionales SE y BSE en columna, incluyendo tecnología de desaceleración de haz para mejorar el rendimiento de la imagen a voltajes de aceleración más bajos.
- Plataforma analítica modular que puede equiparse opcionalmente con la más amplia selección de detectores totalmente integrados (por ejemplo, CL, BSE refrigerado por agua o espectrómetro RAMAN)
