Microscopio Electrónico de Barrido SEM

Tescan

El Microscopio Electrónico de Barrido combina imágenes SEM con análisis de composición elemental en vivo en única ventana del software Essence™

 

Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos de la muestra tanto morfológicos como elementales, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad y análisis de fallas en laboratorios de investigación.

Está indicado para la caracterización de rutinas de materiales, investigación y aplicaciones de control de calidad a escala de micras.

Características del microscopio Electrónico de Barrido SEM

  • Imágenes óptimas y condiciones analíticas disponibles de inmediato gracias al exclusivo diseño óptico sin apertura de TESCAN con tecnología In-flight Beam Tracing™.
  • Navegación SEM en la muestra precisa y sin esfuerzo con aumentos de hasta 2× sin necesidad de cámara de navegación óptica adicional debido al exclusivo diseño Wide Field Optics™.
  • Modo SingleVac™ como característica estándar para la observación de carga en muestras sensibles al haz.
  • Software Essence™ intuitivo y modular diseñado para una operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de experiencia del usuario.
  • Máxima seguridad de los detectores montados en cámara cuando platina y muestra están en movimiento garantizadas con el modelo Essence™ 3D Colisión.
  • Disponibilidad de detectores opcionales SE y BSE en columna, incluyendo tecnología de desaceleración de haz para mejorar el rendimiento de la imagen a voltajes de aceleración más bajos.
  • Plataforma analítica modular que puede equiparse opcionalmente con la más amplia selección de detectores totalmente integrados (por ejemplo, CL, BSE refrigerado por agua o espectrómetro RAMAN)